과제명 : 신 계측기술 : Multi-probe System

분석구분

과제수행자

박*선

분석일

2004-01-28 12:00:00.0

기술산업분류

,

작성기관

한국과학기술정보연구원

키워드

복수탐침시스템  주사프로브현미경  계측기술

과학기술표준분류

내용

원자 관찰용 주사프로브현미경(Scanning Probe Microscope)의 미세탐침을 복수 개의 시스템으로 구성한 복수탐침시스템(Multi-probe System)이 나노 및 생체재료의 기능을 계측하기 위한 기술로 주요국이 활발히 연구개발하고 있음을 확인하였다. 이 기술은 나노디바이스를 개발하기 위한 나노재료의 전기전도도 측정, 생체재료 내부의 각종 메커니즘 규명 등을 위한 연구에 응용이 확대될 것으로 전망된다.

분석물

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