과제명 : 양전자 수명측정에 의한 조사손상 평가

분석구분

과제수행자

채*기

분석일

2003-08-02 12:00:00.0

기술산업분류

,

작성기관

한국과학기술정보연구원

키워드

양전자수명  조사손상  결함탐지

과학기술표준분류

내용

재료에 입사된 양전자가 소멸하기까지의 수명은 결함의 상태에 따라 그 크기와 분포가 다르다. 따라서 이와 같은 양전자의 성질을 이용하여 재료 내의 결함에 대한 다양한 정보를 얻을 수 있다. 양전자소멸 분광법은 중성자 조사에 의한 원자로 압력용기강의 조사취화 평가에도 이용된다.

분석물

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