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전자현미경으로 얻은 원자영상과 원소분석

전문가 제언

전자에너지손실분광학(EELS)은 가속전자가 시료에 입사할 때 시료와 상호작용하여 전자의 운동에너지 변화를 측정하는 분석기술로서 TEM 속에서 행해질 때 EELS는 원자수준의 분해능으로 고체의 구조적, 화학적 정보(화학성분)와 밴드갭 같은 전자적 특성을 측정할 수 있다.

 

에너지분산 X선 분광학(EDX)은 가속 전자빔이 시료에 입사하면 시료와 상호작용하여 시료의 내각전자는 고에너지준위로 여기 되고 다시 기저상태로 전이할 때 원소의 특성 X선을 방출하므로 시료에서 방출되는 X선 수와 에너지를 측정하여 시료의 원소분석이나 화학적 특성평가에 사용하는 분석기술이다.

 

최근 EELS와 EDX에 의한 원소분석연구가 활발히 진행되고 있다. 여기서는 일본 산업기술종합연구소(AIST)에서 개발한 주사투과전자현미경(STEM)과 EELS 및 EDX를 이용한 저차원 물질(Mo1-xWxS2 단일층)에 대한 단일 원자 분광학의 예로 원자영상과 원소분석을 기술하였다.

 

2013년 미국 Transparency Market Research에 의하면 현미경디바이스 세계시장은 2011년 30억 달러에서 2018년에 62억 달러로 성장할 것으로 예측하고 있다. 현미경디바이스 세계시장을 리드하는 주요기업은 Hitachi High-Technologies Corp., Carl Zeiss, FEI, JEOL, Leica Microsystems, Nikon, Olympus 등이다.

 

국내의 전자현미경 국산화는 2000년대 초반부터 한국표준과학연구원 에서 개발된 기술을 2007년 (주)코셈(COXEM)에 이전, 현재 CX-200TA SEM(배율 : 10만배, 해상도 3∼10nm) 등을 생산 시판하고 있다.

 

NDSL에 들어가 ‘Electron energy-loss spectroscopy’를 검색한 결과 해외논문이 3578건, 국내논문 11건이다. 국내에는 연세대(지구과학)와 서울대(무기재료, 지구과학)에서 EELS와 SEM을 이용한 광물의 반응분석과 고체표면물성 연구를 한바 있으나 미국, 일본 등에 비해 연구가 미약하다. 앞으로 원소분석 등 관련연구의 활성화를 기대해본다.

저자
Kazu Suenaga
자료유형
학술정보
원문언어
영어
기업산업분류
정밀기계
연도
2014
권(호)
15()
잡지명
Comptes Rendus Physique
과학기술
표준분류
정밀기계
페이지
151~157
분석자
이*희
분석물
담당부서 담당자 연락처
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