영상검출기의 고속 응답을 위한 공진 캐비티 구조 연구
- 전문가 제언
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광통신시스템에서 높은 비트 전송률(bit rate)과 고속 응답시간 등은 영상 검출기(photo detectors) 연구의 원동력이 되는 것이다. 이는 MSM(Metal-Semiconductor-Metal) 전극이나 고속의 동작모드에서 입증 되었다. 특히 커패시턴스(capacitance : 정전용량)가 감소되는 활성화 영역에 대한 핀 구조(PIN structure)에 비해 대역폭 증가에 따라 발생하는 광신호 증폭의 경우 더욱 민감하다. 이에 MSM 전극구조를 갖는 포토 믹서(photo mixer)에서 THz파를 생성하는 데 널리 사용되고 있다. 그러나 빛의 부분적인 응답속도 감소로 인해 금속성 활성화 레이어에 도달하는 데 제한요인이 있다. 이를 해결하기 위해 Ebbesen 등은 서브 파장의 가늠구멍을 통해 광신호를 전송함으로써 SMG(Sub-wavelength Metal Grating) 특성을 나타낼 수 있는 영상 검출기를 개발한바 있다. 이 구조는 높은 광투과율과 높은 응답 속도를 제공할 수 있는 것으로 평가받은바 있다. SMG 특성상 높은 전송률을 구현하기 위해서는 공통의 HSP(Horizontal Surface Plasmon)의 여기(excitation) 특성을 나타낼 수 있어야 한다. 이를 위해 F. Romanato 등은 HSP 공명과 수직 슬릿 캐비티(vertical slit cavity) 모드에서 공진(resonance)을 일으킬 수 있는 SMG를 개발하였다. 이로써 HSP의 공진특성을 이용하여 슬릿 캐비티의 고속 전송을 구현할 수 있는 사실을 입증하였다.
- 저자
- Mingdi Du, Junqiang Sun
- 자료유형
- 연구단신
- 원문언어
- 영어
- 기업산업분류
- 전기·전자
- 연도
- 2014
- 권(호)
- 323()
- 잡지명
- Optics Communications
- 과학기술
표준분류 - 전기·전자
- 페이지
- 134~137
- 분석자
- 박*환
- 분석물
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