첨단 분석기술을 이용한 6가 크롬 정량분석법

전문가 제언

환경문제에 대한 의식의 고조와 함께 전기ㆍ전자제품도 환경을 배려한 제품제조가 요구되고 있다. EU에서는 2006년 7월에 전기ㆍ전자기기에 포함된 특정 유해물질의 사용제한에 관한 RoHS지령(Restriction of Hazardous Substances Directive)이 시행되었다. 이것으로 제품을 구성하는 재료나 부품에 포함된 화학물질의 관리가 매우 중요하게 되었다. RoHS지령 대상의 6가지 물질 중에도 크롬(Cr)은 가수(Valency)에 의해 독성이 다르기 때문에 6가크롬(Cr(Ⅵ))은 가수에 의한 관리가 요구되고 그 분석은 쉽지 않다.

 

Cr(Ⅵ)의 분석법으로서 온수나 알칼리수용액에 의한 축출 방법이 대표적인 방법이지만 고정밀의 분석법은 확립되어 있지 않다. IEC(국제전기표준회의)의 RoHS지령에 대응한 문석법의 국제규격인 IEC 62321에서도 Cr(Ⅵ)에 관한 분석법은 신뢰성에 문제가 있다. 한편 비파괴로 Cr의 화학 상태를 측정하는 방법으로 X선 흡수미세구조(XAFS: X-ray Absorption Fine Structure) 분석이 제안 되어 있다. Cr의 K 흡수단(Absorption Edge) XAFS스펙트럼에서는 Cr(Ⅵ)을 포함한 재료를 측정하면 예리한 프리에지피크(Pre-edge Peak)가 관측되고 이 피크의 유무를 확인하는 것으로 Cr(Ⅵ)의 유무를 판정할 수 있다.

저자

Mitsuhiro OKI, Sayaka MORIMOTO, Masahiko YOSHIKI

자료유형

연구단신

원문언어

일어

기업산업분류

전기·전자

연도

2014

권(호)

69(5)

잡지명

東芝レビュ-

과학기술
표준분류

전기·전자

페이지

33~36

분석자

권*하

분석물

• 첨단 분석기술을 이용한 6가 크롬 정량분석법.pdf [235,641 byte]

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