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첨단기술정보

SPring-8에 있어서 방목입사소각 X선 산란을 이용한 고분자 박막구조 연구

전문가 제언: 고분자 물성은 그의 계층구조에 의하여 결정되기 때문에, 요즈음 방사광(Synchrotron radiation)을 이용한 멀티스케일로서 구조연구가 수행되고 있다. 박막시료 측정에 있어서는 벌크에 비해서 산란체적이 적고, 실험실 장치에 있어서는 충분한 신호 대 잡음비율(S/N ratio: signal-to-noise ratio)이 얻어지지 않는 것도 있으며, 방사광의 유용성은 매우 높다.

SPring-8에서는, 고분자를 중심으로 하는 소프트물질(Soft matter)의 표면/계면 연구에 있어서 공동 빔라인의 BL40B2 혹은 전용 빔라인의 국경소프트물질(Frontier soft matter)의 전용개발 산업연합체 빔라인 BL03XU를 이용하여, 옹스트롬(Å)으로부터 마이크로미터(㎛)까지의 고분자 박막구조 측정이 가능하게 되었다.

이 글에서는 현황의 SPring-8에 있어서 반응형 X선소각산란의 측정방법 및 장치에 관해서, 방목입사소각 X선산란(GISAXS: Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering)과 방목입사초소각 X선산란(GIUSAXS: Grazing Incidence Ultra Small Angle X-ray Scattering)을 중심으로 설명하고 있다.