마이크로빔 X선 회절법을 이용한 사출품 내부의 구조불균일성과 역학특성

전문가 제언

○ X-선 회절(X-Ray Diffraction ,XRD)은 물질의 내부 미세구조를 밝히는데 매우 유용한 수단이다. X-선이 발견되기 전에 이미 빛의 회절(Diffraction)은 잘 알려져 있었으며 만일 결정이 일정한 간격으로 규칙적인 배열을 한 원자로 되어 있고 또 X-선이 결정 내의 원자사이의 거리와 거의 비슷한 파장을 가진 전자파라면 X-선이 결정에 의해서 회절될 것이라고 추정하였고 이것을 실험적으로 성공한 것은 1912년 독일의 von Laue에 의해서였다.

 

○ 본고는 마이크로빔 X선 회절법을 이용하여 사출성형품의 내부 구조를 해석하여 결정다형, 결정크기, 결정배향 등 ㎚, sub-㎚ 수준 구조의 ㎛ 수준에서의 공간분포·불균일성에 관해서 상세한 정보를 얻을 수 있는 예를 들어 설명하고 있다.

 

○ 현재 X선 회절은 고체화학·물성물리학·생물학·우주지구과학 등 외에 물질을 대상으로 하는 연구나 반도체공업·금속공업 등 산업분야, 물질구조의 해석, 물질동정(同定), 결정체의 크기 측정 등에 널리 이용되고 있다. 원자배열의 상태와 X선 회절이 나타내는 방향과의 관계를 나타내는 조건식을 브래그조건 또는 라우에조건이라 한다.

 

○ 국내에서도 X선 회절의 이용이 활발한데 기초과학연구원에서 단백질 내부의 화학반응 3차원으로 관찰하여 신약개발, 의학치료에 활용 연구를 하고 있고 이대의 모 교수는 인체 내의 효소·산소 화학반응 중간체의 구조를 규명하는 등 많은 분야에서 물질의 내부구조를 규명하는 데는 매우 획기적인 방법이라 생각된다.

저자

Shinohara Yuya

자료유형

학술정보

원문언어

일어

기업산업분류

화학·화공

연도

2013

권(호)

25(11)

잡지명

成型加工

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

506~511

분석자

최*길

분석물

• 마이크로빔 X선 회절법을 이용한 사출품 내부의 구조 불균일성과 역학 특성.pdf [329,590 byte]

이미지변환중입니다.