전자 디바이스와 전자 재료

전문가 제언

일본 도시바에서 최근 개발한 새로운 전자디바이스와 전자재료를 소개한다.

 

○ 전류검출형 DNA칩을 이용한 식중동 원인균 신속 검사 시스템

식중독 원인균 검사는 현재도 배양법이 주류이지만, 까다롭고 시간이 걸린다는 점에서 검사의 신속화와 효율화가 가능한 새로운 기술이 요구되고 있다. 독자적인 전류검출형 DNA칩 기술을 기반으로 신속한 자동 유전자 검사 기술을 개발하고 식중독 원인균 15종을 신속하고 간편하게 검출할 수 있는 검사 시스템을 구축했다.

식중독 검체 샘플(대변)이나 식품 샘플 등 감염 샘플을 비교한 결과, 배양법과 거의 일치함을 확인할 수 있었다. 이 시스템은 식중독 조기 원인규명과 감염 확대방지 및 식품위생검사 등 식품 안전·안심에 도움이 될 뿐 아니라 의약품 및 화장품 제조의 품질관리에 적용함으로써 안전제품 생산의 공헌에도 기대가된다.

 

저자

Nishimura Takashi

자료유형

연구단신

원문언어

일어

기업산업분류

전기·전자

연도

2014

권(호)

69(3)

잡지명

東芝レビュ-

과학기술
표준분류

전기·전자

페이지

84~85

분석자

홍*철

분석물

• 도시바에서 새로 개발한 전자 디바이스와 전자 재료.pdf [272,134 byte]

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