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중성자 반사율법에 의한 고분자 박막의 구조해석

전문가 제언

중성자반사율법은 중성자선을 물질표면에 조사하고, 표면으로부터 반사되는 중성자의 간섭을 해석하는 것으로, 물질의 깊이(내부)방향에 대해서 수 ㎚에서부터 서브 ㎛에 걸친 굴절률 분포를 측정하는 수법이다. 유사한 실험수법으로서 X선반사율법이 있지만 특히 중성자를 이용함으로써 다음과 같은 실험이 가능하다.

 

①중성자는 중수소와 경수소에서 산란진폭 밀도(굴절률에 대응)가 다르기 때문에 주목하고 싶은 개소만을 중수소화함으로써 표시(labelling)하는 것이 가능하다. ②중성자는 높은 투과력을 가지기 때문에 고분자 박막과 용매를 접촉시킬 때의 구조변화를 기판 측으로부터 중성자가 통과하는 것에 의해서 관측하는 것이 가능하다. ③중성자의 파장은 속도에 의존하므로 펄스화한 중성자는 비행시간법에 의해서 파장의 변별이 가능하다. 이것에 의해서 넓은 파장대를 동시에 이용할 수 있기 때문에 넓은 파수 공간을 한번에 주사하는 것이 가능하다.

저자
N. Yamada
자료유형
연구단신
원문언어
일어
기업산업분류
화학·화공
연도
2014
권(호)
63(2)
잡지명
高分子
과학기술
표준분류
화학·화공
페이지
110~111
분석자
황*일
분석물
담당부서 담당자 연락처
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