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양자 빔에 의한 고분자 복합재료 해석에의 새로운 전개

전문가 제언

고분자 복합재료는 고분자 단독으로는 얻을 수 없는 기능이나 성능을 가지고 있기 때문에 산업이나 일상생활에서 중요한 역할을 담당하고 있다. 고분자 복합재료의 기능이나 성능은 고분자에 첨가된 무기충전재나 그 계면 및 첨가제가 복잡하게 관여하는 것에 의해 발현된다. 따라서 고분자 중에 첨가된 각종 재료의 구조나 상호작용의 이해가 고기능 재료를 개발하기 위해서는 매우 중요하다.

근년 SPring-8로 대표되는 고휘도 X선을 이용한 연구에서는 종래의 분석수법으로는 얻을 수 없었던 많은 정보가 얻어짐에 따라 고분자 및 고분자 복합재료에 대한 연구응용이 확대되고 있다. 예를 들면, 소각 X선산란(small- angle X-ray scattering: SAXS)법의 경우에는 우리들이 실험실에서 계측할 수 있는 공간 스케일이 최대 100㎚ 정도인 것에 대해서 방사광 X선을 이용함으로써 수 미크론 오더까지의 구조정보를 얻는 것이 가능하다.

저자
H. Kishimoto
자료유형
연구단신
원문언어
일어
기업산업분류
화학·화공
연도
2013
권(호)
62(11)
잡지명
高分子
과학기술
표준분류
화학·화공
페이지
669~671
분석자
황*일
분석물
담당부서 담당자 연락처
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