전류검출형 DNA칩을 이용한 식중독원인 균의 유전자검사 기술

전문가 제언

식중독원인균의 검사에는 시간과 절차가 걸리는 배양법이 현재에도 주류이지만 먹거리의 안전, 안심에 대한 의식이 높아지면서 검사의 신속화와 효율화를 가능하게 하는 새로운 기술이 요구되고 있다. 전류검출 형 DNA(디옥시리보 핵산)칩 기술을 기초로 번잡한 유전자 검사 공정을 간단하게 자동으로 수행하는 “DNA 칩 카드”를 개발하였다.

 

이 기술을 식중독 검사에 응용하면 주요 15종의 원인균을 신속하고 간편하게 검출할 수 있음을 증명하였다. 이 기술은 식중독 조기 원인규명이나 감염확대 방지에도 도움이 될 뿐만 아니라 식품이나 의약, 화장품 제조 등의 위생관리에 응용하여 안전성 향상에도 공헌할 수 있을 것으로 기대된다.

저자

INADA Mika, TAKAHASHI Masayoshi, KOJIMA Yuka, YUZAWA Eiko

자료유형

연구단신

원문언어

일어

기업산업분류

전기·전자

연도

2014

권(호)

69(2)

잡지명

東芝レビュ-

과학기술
표준분류

전기·전자

페이지

53~56

분석자

홍*철

분석물

• 전류검출형 DNA칩을 이용한 식중독원인 균의 유전자검사 기술.pdf [243,374 byte]

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