X-선 방출 증강

전문가 제언

지난 10여 년간 RIXS(Resonant Inelastic X-ray Scattering)이라 불리는 분광분석 기술이 물질에서 원소 들뜸을 탐지하기 위한 강력한 도구로 개발되어 왔다. X-선 원으로서 3세대 싱크로트론과 X-선 광자 검출 기술의 진보에 따라 RIXS로 측정할 수 있는 들뜸에는 전하 이동, 결정-장 들뜸, magnons, 분자 진동 및 심지어 phonons 까지도 포함된다. 그러나 이 방법은 여전히 주로 비-복사 과정에 의한 낮은 광자 수율 때문에 강한 입사 광자 속이 요구되어 시험하려는 시료에 피해를 주는 어려움을 겪고 있다.

최근에 Beye 등은 RIXS에서 광자 수율을 크게 증강할 수 있는 기술을 개발하였다.

저자

Ernst Fill

자료유형

연구단신

원문언어

영어

기업산업분류

화학·화공

연도

2013

권(호)

501

잡지명

Nature

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

172~173

분석자

엄*윤

분석물

• X-선 방출 증강.pdf [255,481 byte]

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