집적회로 검사기

전문가 제언

IC는 Integrated Circuit의 약칭으로서 트랜지스터, 다이오드, 저항, 콘덴서 등의 소자로서 형성되는 전자회로를 실리콘으로 제작된 반도체기판 상에 집적하고, 증폭, 계산, 기억 등의 각종 기능을 가지게 한 전자부품이다. IC는 1959년에 고안되었고, 반세기에 걸쳐서 컴퓨터의 요소기술로서 비약적으로 진화했다. 그 결과, 현재는 고성능?고기능을 가지는 소형, 저소비전력의 IC가 대량으로 게다가 낮은 가격으로 공급되기에 이르렀다.

현대사회에서는 슈퍼컴퓨터(Super computer), 서버(Server), 퍼스널컴퓨터(PC: personal computer)나 휴대전화, 스마트폰 등의 정보통신기기를 비롯하여 생활가전이나 AV기기, 자동차 등, 사회 환경이나 생활을 지탱하는 각종 기기에 IC가 조합되어 있다. 따라서 이들 기기의 고속화, 다기능화, 소형화, 저소비 전력화를 담당하는 키-펄스(Key-pulse)로서 IC는 계속 진화되고 있다.

IC의 설계는 기능설계, 회로설계, 회로의 배치계획 설계를 수행하고, 최종적으로 컴퓨터논리 시뮬레이션을 이용하여 IC의 기능이 정확히 작동되는지를 검정한다. 다음에 검정까지 완성된 IC의 설계데이터는 제조공정에 보내진다. 제조공정에서는 반도체의 미세가공기술을 이용하여 One chip(하나의 IC)에 10만~10억 개 이상의 트랜지스터를 집적시키고 배선이 수행된다. 이 제조단계에 있어서 IC 내부의 부품이 물리적으로 정확히 제조되지 않고, 설계대로 동작되지 않는 IC가 혼입될 가능성도 있다. 따라서 IC가 설계대로 정확히 제조되었는지 판정하고, 불량품을 제거하는 테스트를 수행한다.

IC 테스터는 IC 종류나 특징에 맞게 전용화 되어 있다. Logic 혹은 System on a Chip(SoC) 테스터, 메모리 테스터, 아날로그 테스터 등으로 대별된다. IC 테스터는, 피 테스트(Under Test)?디바이스Device Under Test(DUT)에 전원을 공급한다. 다음에 IC 테스터는 DUT에 디지털 파형을 입력한다. 디지털 파형은 패턴발생기로부터 발생된 테스트?패턴정보와 타이밍 발생기로부터 출력되는 타이밍정보에 의하여 성형된다.

저자

Shigeru KANNARI

자료유형

연구단신

원문언어

일어

기업산업분류

재료

연도

2013

권(호)

133(3)

잡지명

電氣學會誌

과학기술
표준분류

재료

페이지

157~160

분석자

정*진

분석물

• 집적회로 검사기(IC Tester)의 기술변천1.pdf [287,576 byte]

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