wet etching에 의한 원자스케일의 평탄화
- 전문가 제언
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반도체소자나 기능화 표면의 창제에는 기하학적이고 결정학적으로 원자스케일로 규정된 표면이 요구되는 경우가 있다. 일반적으로 입수가 가능한 평탄 기판은 기계적 연마 후에 화학적 기계적 연마(Chemical Mechanical Polishing : CMP)가 시행되어 나노 스케일의 거침과 손상층이 제거되어있다. 보다 고도의 규정된 표면이 필요한 경우에는 초 고진공속에서나 고 순도 가스분위기속에서의 가열처리를 시행한다.
- 저자
- K. Yamauchi, et al.,
- 자료유형
- 연구단신
- 원문언어
- 일어
- 기업산업분류
- 전기·전자
- 연도
- 2013
- 권(호)
- 82(5)
- 잡지명
- 應用物理
- 과학기술
표준분류 - 전기·전자
- 페이지
- 403~406
- 분석자
- 조*
- 분석물
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