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분자 내 화학결합들의 미소한 차이 확인

전문가 제언
최근 원자간 힘 현미경(Atomic Force Microscope, AFM), 특히 주파수변조 AFM(FM-AFM)의 운용기술이 발전하면서 전도성 또는 비전도성 표면에 대한 원자 수준 해상도로 영상화, 조작 및 화학적 특성의 확인이 가능해 졌다. 취리히 소재 IBM Research의 Leo Gross 등은 일산화탄소 가 부착된 금속 탐침을 사용해서 분자 내 C-C 결합의 전하밀도와 결합길이의 미소한 차이를 가려내는 기술을 개발함으로서 원자현미경의 영상화 능력의 한계를 한 단계 끌어 올렸다. 각 개 화학적 결합의 기본적 특성을 파악할 수 있는 기술이 개발되면 촉매, 광전지 및 분자전자(molecular electronics)와 같은 다양한 분야에 기술적으로 큰 영향을 미칠 것으로 예상된다.
저자
Ruben Perez
자료유형
연구단신
원문언어
영어
기업산업분류
화학·화공
연도
2012
권(호)
337
잡지명
SCIENCE
과학기술
표준분류
화학·화공
페이지
1305~1306
분석자
이*웅
분석물
담당부서 담당자 연락처
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