원자 수준의 전장관찰

전문가 제언

세라믹 재료의 부분구조를 원자 수준으로 직접 관찰하는 방법에는 주사투과전자현미경(STEM)이 널리 이용되고 있다. 근래 수차 보정기술 등에 의한 장치의 성능향상으로 STEM 분해능은 비약적으로 향상하였다. 그러나 국소 포텐셜 구조나 그에 따른 전자장에 관한 것을 직접관찰 하는 것이 매우 곤란하였다. 필자그룹은 다분해 STEM 검출기를 개발하여 검출상의 위치·각도에 의존한 복수의 원자분해능 STEM상을 1회 스캔으로 동시 계측에 성공하였다. 이러한 검출기를 이용하면 재료의 국소 포텐셜 구조 및 전자장을 직접관찰 할 수가 있다.

저자

Naoya Shibata

자료유형

연구단신

원문언어

일어

기업산업분류

기초과학

연도

2013

권(호)

48(2)

잡지명

セラミックス

과학기술
표준분류

기초과학

페이지

128~130

분석자

김*호

분석물

• 원자 수준의 전장관찰.pdf [236,956 byte]

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