합성 유기 재료의 근 엣지 X-선 흡수 미세구조 이미징

전문가 제언

○ 근 엣지 X-선 미세구조(NEXAFS)현미경은 비교적 긴 파장의 연X-선을 사용하는 주사 투과 X-선 현미경(STMX)을 사용하여 다성분계의 성분 분석에 주로 사용되고 있는 분석 장치로 현재 미국의 Advance Light Source, Canadian Light source, Light Source의 Pollux facility Bessy-II의 MAXYMUS, SSRF 등 미국, 캐나다, 독일과 중국에서 생산되고 있으며 이외에 프랑스, 대만, 일본, 스웨덴에서도 이 장치의 개발을 착수하고 있는 것으로 알려져 있는데 최근 10년간 이들의 축적된 연구 결과를 이용하여 NEXAFS 현미경 기술은 200-900eV 에너지를 가진 K 또는 L-엣지를 가지는 재료의 원소분석에 매우 강력한 수단을 제공하고 있다.

○ 합성 유기 재료인 블록공중합체는 신발에서부터 반도체 분자 까지 또 고분자는 유연하고 가벼운 전자제품에 이르기 까지 점차 그 용도가 확대되어 인류의 생활 전반은 물론 경제적으로도 그 중요성이 점차 증대되고 있다. 자연에서나 인공적으로나 서로 상보되는 물성을 가지는 나노구조의 여러 성분을 조합할 때 최적의 물성과 기능을 가지는 고기능성 재료가 얻어진다. 다성분계의 구조-물성, 구조-기능 간의 관계를 이해하는 것이 기능성 나노구조의 설계에 중요하며 이를 위해서는 100㎚이하에서 1㎚까지 스케일 범위에서 조성분석과 모폴로지 또는 구조의 특성을 분석할 방법의 개발이 요구되는데 NEXAFS 현미경은 나노구조의 유기재료 분석에 매우 유용한 방법이 될 것이다.

○ 본고는 NEXAFS 현미경을 사용하여 유기재료를 분석하는 최근의 분석방법에 대해 소개하고 있는데 앞으로 장치의 가격 인하와 함께 공명 소각 X-선 산란법과 원자힘 현미경과의 조합하여 새로운 분석법으로 크게 발전할 것으로 기대된다. 새로운 태양전지, 연료전지 등 다양한 나노구조의 개발을 목표로 하는 국내에서 이 분야 연구에 대한 폭넓은 관심을 가질 필요가 있다고 사료된다.

저자

Ben Watts

자료유형

학술정보

원문언어

영어

기업산업분류

화학·화공

연도

2012

권(호)

15(4)

잡지명

Materials Today

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

148~157

분석자

마*일

분석물

• 합성 유기 재료의 근 엣지 X-선 흡수 미세구조 이미징.pdf [333,980 byte]

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