양자간섭의 가시화

전문가 제언

탐침을 금 코팅한 AFM(atomic force microscope)으로 금기판 상에 흡착시킨 단층분자의 양자간섭을 직접 관찰할 수 있다.

저자

Richard J. Nichols and Simon J. Higgins

자료유형

연구단신

원문언어

영어

기업산업분류

재료

연도

2012

권(호)

7(5)

잡지명

Nature Nanotechnology

과학기술
표준분류

재료

페이지

281~282

분석자

윤*석

분석물

• 양자간섭의 가시화.pdf [273,975 byte]

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