주사전자현미경을 나노물질에 응용

전문가 제언

○ 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 초점심도가 깊고 3차원적인 영상의 관찰이 용이해서 시료의 성분, 구조와 결정외형 등을 나노 수준에서 높은 배율로 관찰할 수 있는 분석 장비이다. SEM의 기본원리와 특성을 충분히 이해하여 시료를 분석하고자 하는 목적에 부합하는 전자총과 대물렌즈를 선택하여 시료를 측정하고 분석하는 기술이 필요하다.

○ SEM은 장치의 고성능화로 분해능이 향상되고 나노스케일에서의 관찰도 가능해졌다. 금속, 광물, 반도체소자와 신소재, 고분자, 생체 시료 등 전 산업 영역에 걸쳐 활용되고 있고 이용도 계속 증가하고 있다. 단면을 가공할 경우에는 시료의 물성에 따라서 기계연마와 미크로톰을 사용해왔으나 CP로 경도가 다른 복합시료도 가공할 수 있게 되었으므로 적절한 시료를 만들어서 사용하는 것이 중요하다.

○ 주사전자현미경은 1965년에 처음으로 상품화 되었는 데 매년 시장규모가 12~13% 정도 성장하고 있으며, 2015년에는 5조원 규모로 확장될 것이라고 한다. 국내에서의 본격적인 국산화는 2000년대 초반부터 수행되어 2008년부터 모델이 판매되고 있는 실정이고 대부분 수입에 의존해왔다. SEM의 제작은 다양한 원천기술이 요구되는 높은 난이도의 기술이지만 나노산업뿐만 아니라 기초과학 및 산업현장에서도 필수적인 인프라 산업이므로 우리나라에서도 특성화된 기능을 개발하여 집중적으로 육성해야 할 첨단 분석 장비이다.

○ 국내 기업들이 후발의 이점을 최대한 활용하여 시장을 구축해간다면 글로벌 시장에서 경쟁력을 확보할 수 있을 것이다. 산학연 공동연구를 통해서도 창의적인 기술을 개발하여 전자현미경 분야에서 세계적인 회사를 설립할 수 있을 것이다.

저자

T. Ohmoto

자료유형

학술정보

원문언어

일어

기업산업분류

재료

연도

2011

권(호)

48(5)

잡지명

材料の科學と工學

과학기술
표준분류

재료

페이지

204~209

분석자

강*태

분석물

• 주사전자현미경을 나노물질에 응용.pdf [241,903 byte]

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