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전장(Electric Field) 해석을 지원하는 FSM에 의한 비파괴검사

전문가 제언
저자
KIM You-Chul and HIROHATA Mikihito
자료유형
연구단신
원문언어
일어
기업산업분류
재료
연도
2011
권(호)
29(2)
잡지명
溶接學會誌
과학기술
표준분류
재료
페이지
135~138
분석자
유*천
분석물
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