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GaAs 기반 MOSFET에서 고-k 유전체 게이트 스택의 나노분석적 검토

전문가 제언
저자
Longo, P. ; Craven, A.J.; Holland, M.C.; Moran, D.A.J.; Thayne, I.G.
자료유형
연구단신
원문언어
영어
기업산업분류
전기·전자
연도
2009
권(호)
86(3)
잡지명
Microelectronic Engineering
과학기술
표준분류
전기·전자
페이지
214~217
분석자
황*룡
분석물
담당부서 담당자 연락처
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