GaAs 기반 MOSFET에서 고-k 유전체 게이트 스택의 나노분석적 검토
- 전문가 제언
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- 저자
- Longo, P. ; Craven, A.J.; Holland, M.C.; Moran, D.A.J.; Thayne, I.G.
- 자료유형
- 연구단신
- 원문언어
- 영어
- 기업산업분류
- 전기·전자
- 연도
- 2009
- 권(호)
- 86(3)
- 잡지명
- Microelectronic Engineering
- 과학기술
표준분류 - 전기·전자
- 페이지
- 214~217
- 분석자
- 황*룡
- 분석물
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