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MOSFET 파라미터 추출에서 이동도와 저항 분리의 간접 수식화

전문가 제언
저자
Ortiz-Conde, Adelmo, et.al.
자료유형
연구단신
원문언어
영어
기업산업분류
전기·전자
연도
2009
권(호)
49(7)
잡지명
Microelectronics Reliability
과학기술
표준분류
전기·전자
페이지
689~692
분석자
황*룡
분석물
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