컴퓨터를 이용한 검사공정 계획

전문가 제언

○ CAIP는 CAD/CAM과 CAI(Computer Aided Inspection)의 다리 역할로써 OMM을 위한 CAIP는 복잡한 기계 부품을 부품 가공 과정 또는 후에 효율적으로 검사 하는데 목적이 있다.

○ 컴퓨터 지원 검사 계획(CAIP, Computer-Aided Inspection Planningnning)은 지난 25년 동안 연구 화제 이었다. 대부분 CAIP 시스템은 3차원 측정기(CMM, Coordinate Measuring Machines)을 위해 개발되며 자동화 생산을 위해필수적인 새로운 CAIP 시스템은 OMI 시스템을 위해 발전 되었다.

○ 검사 공정 계획은 디자인과 생산 분야에서 통합된 부분이며 제품의 어떤 특징을 어디에서 그리고 언제 검사 하는지를 결정한다. 근래의 제품 특징은 점점 소량, 다 품종, 엄격한 공차 그리고 고품질 생산으로 되어간다. 부품과 제작 검사는 통합 생산의 중요한 모듈로 발전되고 제조업체는 최종 검사에서 제품의 합격 또는 불합격 목적이 아닌 원하는 품질을 얻기 위하여 공정간 검사를 한다.

○ 최근에 제조 관리와 품질 관리에 직접적인 검사들을 위한 측정 장비로서 OMI(On-Machine Inspection) 또는 OMM(On-Machine Measurement) 가 있다. 이것은 자동화 생산 시스템을 위한 필수적인 특징이고 제조물 공작 기계에서 직접적으로 검사되기 위하여 디자인, 기계 가공, 그리고 검사를 통합하는 공정이다.

○ 측정과 동시에 측정 데이터가 오차 없이 컴퓨터에 등록이 되고 등록과 동시에 통계적 분석이 되어 현재의 품질 상태를 작업자가 그래프를 통하여 직적 확인이 되는 실시간 관리하는 시스템은 모든 회사에서 필요로 하는 중요한 공정 관리 시스템이다.

○ 데이터 입력에 소요되는 시간을 줄이고 측정 오류, 계산 오류로 인한 과오를 방지하고 공정의 이상원인 발생 시 즉시 조치를 취함으로써 공정이 항산 관리 상태 하에 있도록 하여 측정, 분석, 개선, 관리를 지속적으로 함으로써 최고의 품질 수준을 유지 향상 시켜야 한다.

저자

Fiona Zhao, Xun Xu

자료유형

학술정보

원문언어

영어

기업산업분류

일반기계

연도

2009

권(호)

60

잡지명

Computers in Industry

과학기술
표준분류

일반기계

페이지

453~466

분석자

마*철

분석물

• 컴퓨터를 이용한 검사공정 계획.pdf [398,442 byte]

이미지변환중입니다.