MOSFET CV 특성 분석을 위한 링발진기 기법
- 전문가 제언
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○ 논리회로에서 링발진기(ring oscillator)는 홀수 개의 NOT 게이트(‘인버터’)로 구성된 소자로서 그 출력이 두 전압(하나는 true, 또 하나는 false) 사이를 왕복하는 구조이다. 인버터는 사슬(chain) 모양으로 연결되어 있고 마지막 인버터의 출력이 첫 인버터로 피드백 된다. 링발진기의 인버터 수를 짝수로 하면 발진 효과를 얻을 수 없는 대신 정보 저장 장치로 사용할 수 있는데 이 원리를 이용한 것이 SRAM(static random access memory)이다.
○ 링발진기를 웨이퍼의 스크리브 선(scribe line, 웨이퍼를 개개의 칩으로 나누기 위해 톱질하는 영역)에 넣어 제조 과정에서 자체 테스트를 하는 데 사용하는 경우가 많다. 스크리브 선을 이용하기 전에는 웨이퍼 상에 TEG(Test Element Group)라는 특이한 패턴의 칩 혹은 다이를 몇 개 만들어 제조 과정 중에 테스트 목적으로 사용하였다.
○ 링발진기의 주파수를 높이려면 인버터 수를 줄이면 된다. 하지만 다른 한 방법은 인가전압을 높이는 것인데 이것은 게이트 커패시턴스의 충전에 소요되는 시간을 줄여주기 때문이다. 바로 이 특징을 이용하여 CV 특성(게이트 전압과 게이트 커패시턴스의 관계)을 파악하고자 하는 것이 이 글의 주제이다. 제안 기법은 CV 특성을 파악하는 데 상당히 유용하며 다른 여러 가지 특성을 구할 수 있는 부수적 효과가 있음을 확인하였다.
○ MOSFET의 축소화가 진행되어 단채널 효과 등이 주요 난제로 되어 있고 사용 주파수는 200GHz를 넘어서고 있는 시점에서 볼 때 이 글의 기법은 단채널 효과와 절연체 누설 전류를 충분히 감안할 수 없고 주파수 범위는 1㎒라는 제한이 있어 응용 범위는 상당히 제한될 것으로 보인다. 하지만 링발진기를 인라인 테스트 시스템으로 응용한 것은 상당히 고무적인 제안으로 생각된다.
- 저자
- Manjul Bhushan, et.al.
- 자료유형
- 학술정보
- 원문언어
- 영어
- 기업산업분류
- 전기·전자
- 연도
- 2008
- 권(호)
- 21(2)
- 잡지명
- IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
- 과학기술
표준분류 - 전기·전자
- 페이지
- 180~185
- 분석자
- 황*룡
- 분석물
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