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X선 광전자분광법에 의한 수지(고분자)/금속 접착계면의 해석

전문가 제언
○ 전자분광법은 전자의 운동량 분포나 운동에너지 분포 또는 각도 분포 등을 측정하는 분광법의 총칭이다. 물질에 빛이나 X선과 같은 전자기파나 전자 이온과 같은 하전입자 또는 들뜬 원자를 부딪쳤을 때 발생하는 전자의 분포를 측정하며, 광원에 따라 각각 다른 명칭을 써서 분류할 때가 많다.

– X선 조사에 의한 ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) 외에 오제전자분광법, 이온중성화분광법, 페닝이온화분광법 등이 있다. 그밖에 전자의 비탄성 충돌에 따른 에너지손실 등에 주목하는 전자충격분광법 등도 보통 전자분광법에 포함시킨다.

○ 전자분광법에서 광전자분광법 및 ESCA 등 전자기파를 조사 광원으로 함으로써 얻어지는 스펙트럼을 광전자 스펙트럼이라고 한다. 광전자분광법의 조사 광원으로는 헬륨의 공명선(5840㎚, 21.21eV) 등의 진공자외선이, 또 ESCA의 조사 X선 광원으로는 알루미늄이나 마그네슘의 Kα선과 같은 단색광이 쓰인다.

○ Maeda는 알루미늄과 마그네슘의 Kα선 같은 연X선을 이용한 X선 광전자분광법으로 에폭시수지와 금속 간의 계면, 고분자 초박막계면에서 나오는 광전자의 운동에너지를 분석하는 연구 등을 소개하고, 접착계면의 전하이동결합이나 화학결합의 존재를 밝히고, 화학결합 모델을 제안하고 있다.

○ 우리나라에서도 접착제의 생산 및 연구가 활발하므로, 접착제의 특성 향상을 위한 수지/금속계면의 접착기구 연구에 Maeda의 보고가 도움이 될 것으로 사료된다.
저자
Shigeyoshi MAEDA
자료유형
학술정보
원문언어
일어
기업산업분류
재료
연도
2006
권(호)
41(6)
잡지명
세라믹스(C091)
과학기술
표준분류
재료
페이지
469~473
분석자
최*수
분석물
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