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X-선과 중성자 소각산란에 의한 세라믹물질들의 특성 분석

전문가 제언: ○ SAXS 기술은 제3세대 싱크로트론에서 얻어지는 강한 X-선의 활용이 가능해짐에 따라, 이제까지 해결할 수 없었던 SOFC와 같은 다성분계 내의 내부 계면과 미세 구조에 대한 다양한 정보를 얻을 수 있는 강력한 도구가 되었다. SANS도 지금까지는 금속이나 합금(특히 자성물질)과 고분자물질의 연구에 주로 사용되어 왔으며, 냉중성자원의 개발과 더불어, 물질에의 침투력이 강화되면서 복합재료의 특성 분석의 효용도가 더욱 활발히 연구되고 있는 분야다.

○ 우리나라에서도 포항공대의 방사광 가속기시설이 건설된 이후에, 강력한 제3세대 X-선을 이용한 많은 연구들이 다양한 분야에서 활발히 수행되고 있다. GI-SAXS를 이용한 나노박막물질들의 다공률 분포 측정과 같은 연구들이 수행되었으며, 현재 두 개의 빔 라인이 SAXS 측정을 위해 할애되어 있어, 나노기술과 관련 물질들의 원천기술개발을 위한 보다 많은 활용의 문은 열려 있으나, 아직은 대단히 제한적인 활용만 되고 있으며, 앞으로 보다 이 분야에 보다 많은 활용이 기대되고 있다.

○ SANS 연구는 우리나라에서는 현재로는 불가능하나, 한국원자력연구소에서 추진 중인 냉중성자시설의 건설로 앞으로는 관련 연구가 가능할 것으로 생각된다. 그러나 건설될 시설의 효율적인 활용을 위하여 다양한 분야의 응용을 위한 타당성 조사를 거쳐, 보다 많은 수요가 있을 것으로 기대되는 분야의 빔라인이 건설될 것으로 보아, 나노기술개발과 관련한 이 분야에의 연구개발에 보다 많은 지원이 있어야 할 것으로 생각된다.

저자: Allen, AJ
자료유형: 학술정보