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점착테이프 박리 후 피착체나 접착제 최외각 표면의 TOF-SIM 분석

전문가 제언: □ 최근 소형화 및 경량화 추세는 고분자물질의 공업재료로의 중요성을 증대시키고 있다. 플라스틱의 복합재료로의 사용은 고분자재료의 표면, 계면, 미소부분에 관한 분석이나 해석의 중요성과 함께 화학구조에 관한 정보 요구량의 급속한 증대를 요구하고 있다. 지금까지 공업재료의 표면, 계면, 미소부분의 화학구조 정보를 얻기 위해서는 현미 FTIR, 현미 라만 및 ESCA를 주로 사용하여 분석하였으나, 현미 FTIR과 현미 라만은 화학정보량은 많으나 감도가 낮고 분석 깊이가 깊다는 결점을 가지고 있으며, ESCA는 분석 깊이는 낮으나 감도가 낮고 화학정보량이 적다는 결점을 가지고 있다.

□ 한편 고분자재료는 고성능화 고기능화가 진행되어 이에 동반되는 젖음, 미끄럼, 점착, 박리, 마찰, 대전, 편석, 이행, 오염, 부착, 확산 및 열화 등 각종 물성에 대한 요구사항이 엄격해지고 있는데, 이들은 모두 표면, 계면 및 미소부분과 관계가 있는 문제들이다. 그러므로 공업재료, 특히 고분자재료에서는 표면, 계면 및 미소부분을 분석하는 일이 매우 중요해졌으며, 이에 따라 감도가 높으면서 화학정보량이 많은 분석기법의 개발이 요청되고 있다.

□ TOF-SIM은 비행시간형 2차 이온질량 분석장치의 약칭으로 비교적 새롭게 개발된 분석기법으로 높은 감도로 재료의 최외각 표면층을 분석하는 질량분석법이다.

□ 나노 크기의 표면과 미소부분의 화학구조 정보를 얻을 수 있는 TOF-SIM의 적극적인 활용으로 전자 디바이스 등의 제조에 사용되는 고분자재료의 전자재료 표면의 잔사성분, 미량 오염물 및 부착물의 성분 해석에 활용함으로써 우리 전자산업계의 품질 향상에 도움을 줄 수 있을 것으로 기대한다.

저자: UNO Y.
자료유형: 학술정보