할로겐화은 유제의 전리방사선에 의한 잠상형성 기구(Mechanism of Latent Image Formation by Ionizing Radiations in Silver Halide Emulsion)

전문가 제언

□ 은염 감광재료의 고감도화를 추구하기 위하여 일관성 있게 대처해야 할 주요 문제는 자연방사선 등의 전리방사선에 의한 손상이다. 특히, 최근의 테러 대책을 위한 공항에서의 수하물 X선 검사의 강화는 상용 감도의 감광재료에도 큰 문제가 되었다.

□ 자연방사선의 은염 감광재료에 대한 작용에 대하여 오래 전부터 연구가 수행되었다. Jones과 Sowinski 등에 의해 자연방사선의 영향은 60Co-Ύ선 조사를 이용하여 강제 시험, 시뮬레이션이 가능한 것이 밝혀졌다. 이 자연방사선의 영향은 우주선, 환경방사선 및 은염 감광재료 자신의 자기 피폭의 3인자의 기여로 구성되고, 은염 감광재료에 대하여 자기 피폭의 증가, 감도의 저하 및 입상의 악화를 초래하는 것이 Nozawa 등에 의해 밝혀졌다.

□ 이 보고서에서는 80kV p-X선 및 60Co-γ선에 대한 8면체 브롬화은(AgBr)유제의 감도를 해석하였다. 단순한 가정 하에서 이들 전리방사선의 흡수에 의하여 발생하는 2차 전자가 브롬화은 입자 중에 생성시키는 전자/정공쌍의 수를 구하였다. 이 값과 가시광에 대한 10-5초 노광의 특성 곡선을 이용하여 이들 전리방사선에 대한 감도를 정량적으로 예측할 수 있는 것을 나타내었다. 이 결과 전리방사선에 의한 잠상형성의 기구가 명확하게 되었다.

□ 방사선의 흔적을 명확하게 구명하는 것은 테러대비 검색이나 원자력발전소에서 방출되는 방사선의 위해를 진단하는 데도 이용되며, 이 방면에 흥미가 있는 제현의 참고가 되리라 믿는다.

저자

Mikio IHAMA

자료유형

학술정보

원문언어

일어

기업산업분류

화학·화공

연도

2004

권(호)

67(6)

잡지명

일본사진학회지(D146)

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

719~724

분석자

이*찬

분석물

• 할로겐화은 유제의 전리방사선에 의한 잠상형성 기구.pdf [171,816 byte]

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