농축상 할로겐화물의 전자 유도 화학(Electron-driven chemistry of halogenated compounds in condensed phases: Effects of solvent matrices on reaction dynamics and kinetics)

전문가 제언

□ 본문은 금속 기질에 흡수된 할로겐 화합물이 초박막에 물(얼음)과 함께 축적될 때 일어나는 전자-유도 분해를 화학적 및 물리적 면에서 검토한 것이다. 특히 이 결과는 성층권의 오존층 파괴와 같은 할로겐에 의한 화학을 이해하는 데 중요하다.

○ 금속에 흡착된 할로겐화탄소와 농축된 할로겐화탄소/물(얼음) 시스템의 혼합된 조성에서 전자로 유도되는 반응 이론에 초점을 맞추었다. 이 필름 등을 이용하고 RAIRS, XPS, ESDIAD 등의 표면 과학 기술을 사용하여 낮은 에너지 수준의 전자 등에 노출되었을 때 이 시스템에서 생성된 반응성 화학종 간의 상호작용을 추적하였다.

□ TPD는 반응 생성물을 감지하려면 농축된 할로겐화탄소/물 필름을 파괴하여야 하지만 RAIRS를 사용하면 현장에서 직접 반응물과 생성물을 감지할 수 있다.

○ 그러나 RAIRS는 때로는 반응 생성물 분석이 명확하지 못한 경우가 있어 특정한 반응 생성물의 감지 능력이 제한되는 데 비하여 XPS는 RAIRS와 TPD로는 어려운 분석이 가능하다. 아울러 XPS는 표면과 얇은 필름의 화학적 조성에 대한 계량적 정보는 물론 결합 에너지를 토대로 특정한 원소의 화학적 상태를 감지해낼 수 있다.

□ 본문에서 저 에너지 수준의 전자의 두들김만 다루는 이유는 다음과 같다. 고체에 고 에너지 입자(전자나 광자)를 투사하면 넓고 연속적인 전자의 분포가 생긴다.

○ 고 에너지의 전자가 고체를 통과하면 연속된 충돌이 일어나면서 초기의 에너지는 잃고 저 에너지의 이차전자를 생산한다.

○ 20keV의 고 에너지의 전자가 액체 물과 상호작용 하는 경우에도 Monte-Carlo 모사를 해보면 약 90%의 일차전자에 의해 튀어나오는 전자와 후속되어 생산되는 이차전자 모두 20eV 이하의 저 에너지를 가지고 있다고 한다.

저자

Perry, CC; Faradzhev, NS; Fairbrother, DH; Madey, TE

자료유형

원문언어

영어

기업산업분류

화학·화공

연도

2004

권(호)

23(2)

잡지명

INTERNATIONAL REVIEWS IN PHYSICAL CHEMISTRY

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

289~340

분석자

김*설

분석물

• 농축상 할로겐화물의 전자 유도 화학.pdf [234,908 byte]

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