AFM에 의한 고분자 한 가닥측쇄의 나노 역학 측정(Nano-mechanical Measurement of a Single Polymer Chain by AFM)

전문가 제언

□ 일본 Tokyo 공업대학에 근무하는 Ken Nakajima 외 3명의 과학자에 의하여 집필한 내용을 특별 기고 형식으로 기능재료(일본) Vol. 24, No. 10, (2004)에 실은 논문이다. 참고문헌은 주로 일본에서 발간한 것을 인용하고 있다.

□ 원자의 모양이 전자 현미경에 의하여 모습을 보인 것은 1950년대로 알고 있다. 맨 처음에 원자의 모습을 촬영한 것은 텅스텐이었다. 그 후 나노미터 입자의 출현으로 분자와 원자를 직접 다루는 연구가 활발하게 진행되면서 이제는 거시 물질의 물성 연구는 고전적인 과학으로 전락하고, 미시 단위의 물성에 대한 연구가 물리, 화학, 생물, 재료 등 다방면에서 연구의 주제로 등장하고 있는 추세이다.

□ AFM(원자간 역 현미경; Atomic Force Microscope)에 유사한 각종 측정기기가 특허로 나와 있다. 그 대표적인 것은 Contact Mode AFM, Ac Mode AFM, AFM Non-Contact Mode AFM, Phase Mode AFM, Scanning Tunneling Microscope, Scanning Probe Spectroscope, Magnetic force Microscope, Contact Current Mode, Friction Force Microscope, Lateral Modulation FFM, Micro Viscoelasticity, Pulsed Force Mode, Scanning Kelvin Probe Microscope, Scanning Capacitance Force Microscope 등 새로 개발된 기기가 이외에도 다수 존재한다.

□ X-선에 의하여 결정의 단위격자 밀도를 이론적으로 결정할 수 있다. 이러한 방법을 이용하면 한 가닥 고분자 측쇄의 힘도 이론적으로 결정할 수 있다고 본다. 가령 고분자를 형성하고 있는 원소 성분을 기능기를 포함하여 알 수 있고, 각각의 결합 에너지도 알 수 있다. 그러면 단위 부피에 들어있는 고분자의 사슬 가닥수도 이론적으로 알게 된다. 따라서 어떤 단위 부피의 역학적인 인장력은 단위 가닥의 인장력의 합으로 볼 수 있기 때문에 이론적인 보완과 개발이 이루어지면 기기적인 방법이 아니더라도 인장력의 측정이 가능할 것으로 보인다.

저자

Ken Nakajima ; Yasuhiro Sakai ; Kohzo Ito ; Toshio Nishi

자료유형

원문언어

일어

기업산업분류

화학·화공

연도

2004

권(호)

24(10)

잡지명

기능재료(D323)

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

24~32

분석자

박*학

분석물

• AFM에 의한 고분자 한 가닥측쇄의 나노 역학 측정.pdf [247,330 byte]

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