나노급 입자의 입경 측정(Diameter Measurement of Nano-order Particles)

전문가 제언

□ 미세입자의 입경 측정으로는 미세한 입도를 가진 분말 시료의 입자 크기 및 분포를 측정하는 분무 입경 측정기, 먼지의 입경별 분포를 측정하는 Clean room 먼지 입경분포 측정기, 동적 광 산란 법(Dynamic light scattering)의 원리로 분산 상태의 입자 크기 및 분포도를 측정하여 나노미터 단위의 작은 입자의 크기와 분포를 측정하는 전위 측정기 그리고 레이저 회절 이론을 이용하여 분체의 입도를 측정하는 레이저 회절 입도 분석기 등 그 외에도 최근 새로운 원리와 매체에 의한 장치가 나노 기술의 발달과 함께 그 측정을 위해 연구 개발되고 있다.

□ 광 산란 법은 빛의 회절 현성을 이용하여 입경을 측정하는 기법으로 액적의 가장 자리에서 발생하는 회절 현상은 회절 무늬가 입자의 크기에 따라 일정한 형태를 유지하며 변하는 것을 이용한 것이다. 입자의 크기에 따라 다르게 나타나는 회절 무늬를 측정하면 입자의 크기를 알 수 있고 일반적으로 이용되는 광원으로는 He-Ne 레이저이며 산란광은 링 디텍터로 받아들여 산란광 신호를 컴퓨터로 처리하여 입경을 측정한다.

□ 미립자의 입경 측정 방법 중 나노미터 급 입자의 측정에는 광 산란 현상을 이용한 동적 광 산란 법이 최적으로 알려져 있다. 동적 광 산란 법은 브라운 운동을 하는 입자 군으로부터 산란광 강도의 시간적 변동을 이용하여 입경이나 입경 분포를 구하는 방법으로 초미립자 계측이 가능하다. 여기에서는 동적 광 산란 법의 원리나 특징을 기술하고 나노 입자의 측정을 예로써 설명하고 있다.

□ 동적 광 산란 법은 신소재로부터 바이오 등에서 나노미터 입경의 입경 측정을 쉽게 할 수 있으나 측정 시에 불순물에 대한 영향에 주의하여야 하고 분체의 분산 처리에도 유의하여야 한다. 기능성 향상을 위해서 나노미터 단위의 미립자가 많이 이용되고 이러한 미세 입자의 입경 측정이 필요하게 되며 이를 위하여 동적 광 산란 측정 장치의 수요가 점점 더 증가할 것으로 예상된다.

저자

Shoichi NAKAMURA

자료유형

원문언어

일어

기업산업분류

화학·화공

연도

2004

권(호)

36(6)

잡지명

분체와 공업(A346)

과학기술
표준분류

화학·화공

페이지

49~55

분석자

오*섭

분석물

• 나노급 입자의 입경 측정_교정.pdf [198,473 byte]

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