전자기기에서 누설되는 전파의 가시화 기술: 연구개발의 현황 (전편)

전문가 제언

□ 우리나라도 2004년 6월 30일 개정 발효된 전파법 제57조의 규정에 의하여, 전기, 전자기기의 사용 급증으로 불요 전자파의 누설에 의해 통신장해 및 기기의 오작동으로 인한 산업재해를 미연에 방지하기 위하여 전자파적합(EMC) 등록을 실시하고 있다.

□ 전자파는 자계성분에 의한 영향과 전계성분에 의한 영향으로 구별되며, 이 가운데 자계성분에 의한 영향이 중요하다. 현재 전자기기의 부품에서 나오는 전자파를 측정하는 Shielded Loop Probe(SLP)는 루프의 직경이 MHz 주파수대에는 적합하지만, GHz의 주파수대에는 적합하지 않다.

□ 최근에 이르러서는 루프의 폭이 50μm에 달하는 초소형도 개발되어, 고주파특성을 개선하고 있으나, 신호전송용의 케이블로 인하여 전자계분포가 교란을 받기 때문에 측정의 정밀도가 떨어진다.

□ 이 연구개발과제에서 개발하고 있는 탐침자와, 이를 이용한 측정시스템은 궁극적으로 GHz대의 주파수를 지닌 전자파의 존재까지도 눈으로 볼 수 있게 하는 것으로서, 이것이 실용화되면 전자기기로부터 누설되는 전자파를 관찰하여 신속하고도 효과적인 대책을 세울 수 있다.

저자

Kazumasa TAIRA; Hiroyasu OTA

자료유형

원문언어

일어

기업산업분류

전기·전자

연도

2004

권(호)

16(12)

잡지명

전자환경공학정보EMC(F209)

과학기술
표준분류

전기·전자

페이지

85~94

분석자

이*근

분석물

• 전자기기로부터누설되는전파의가시화기술.pdf [161,240 byte]

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