근접장광에 의한 전자빔의 변조와 검출

전문가 제언

□ 21세기에 들어오면서 가속화되고 있는 나노테크놀러지는 이제 모든 산업, 과학기술분야에서 새로운 기술혁신을 예고하고 있다. 나노기술이 인류문화에 적용하기 위하여 나노 물질의 생산기술, 제어기술, 물리 · 화학적 특성제어기술, 평가기술 등이 개발 및 표준화되어야 한다. 이를 위하여 분석, 평가, 장비개발이 선행되어야 한다. 지금까지 SAXS, SANS, WAXD을 활용하여 나노 물질의 크기, 형태 등을 파악하고 양전자 소멸 시험법으로 미세구조를 정량적으로 평가할 수 있는 기술도 개발되었으나 이들 장비로 나노 세계를 개척하는 데는 한계가 있다.

□ 최근 나노 세계를 직접 눈으로 볼 수 있는 장비개발이 한창이다. 근접장광을 이용한 전자현미경(near field optical microscope)이 바로 나노 세계를 눈으로 볼 수 있는 장비이다. 지금까지 일반광은 초점을 맞출 경우 광의 회절한계로 인하여 수백 나노미터 이하물질은 볼 수가 없었다. 그러나 근접장광은 이 회절한계가 없어 파장 이하의 물질도 볼 수 있다.

□ 근접장광에 대한 연구는 미국이 주도해왔으나 장비 개발면에서는 일본이 미국을 추월하고 있으며, 이제 나노 세계도 하나하나 베일을 벗을 날도 멀지 않았다. 또 근접장광을 이용하면 CD, DVD의 저장용량을 현재보다 100배 이상 키울 수 있고 앞으로 등장할 양자컴퓨터에도 중추적 역할을 할 것으로 보고 있다.

□ 본고에서는 근접장광 기본원리와 발생장치에 대하여 상세히 설명하고 있어 관심 있는 분에게 필독의 기초 자료이다.

저자

ISHIKAWA ryo

자료유형

원문언어

일어

기업산업분류

기초과학

연도

2004

권(호)

26(4)

잡지명

O Plus E(F039)

과학기술
표준분류

기초과학

페이지

412~417

분석자

오*갑

분석물

• 근접장광에 의한 전자빔의 변조와 검출.pdf [192,837 byte]

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