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중간준위 X선 섬광 방사선사진법을 위한 반 산란 그리드의 설계 및 검증시험

전문가 제언

X-선 섬광 방사선사진법(X-ray flash radiography)은 지난 세기의 위대한 발명 중 하나로서, 대상물체의 내부를 검출하게 해준다. 현재 우리나라에서도 X-선 영상화 기술이 의학적 진단과 비파괴 시험 및 항공 보안 그리고 산업용 컴퓨터 단층촬영(computed tomography)과 같은 다양한 적용분야에 널리 사용되고 있다.

 

고-에너지 X-선 섬광 방사선사진법에서 영상품질에 영향을 미치는 다양한 인자 중에 가장 결정적인 인자는 시료에서의 산란 배경준위(scatter background)로서, 산란 및 1차 방사선 모두가 아무런 중개도 없이 영상기록 장치에 의해 기록되는데, 종속되는 콘트라스트 및 신호-대비-잡음 비율이 저감되면서 상세한 정보가 얻어질 수 없어서 후속의 분석이 불리해진다.

 

현재에 산란 잡음을 저감시키기 위해 가장 흔하게 사용되는 도구가 반-산란 그리드(anti-scattering grid)이며, 원리상으로 X-선원을 향해 집중된 구멍들을 지닌 몇몇의 금속판이 직접 방사선이 검출기를 통과하게 해주지만, 무작위로 배향된 산란 방사선은 흡수되게 해준다.

 

본 연구에서는 이러한 문제를 해결하기 위해, 중간준위-에너지 X-선 영상화를 위한 2㎜ 두께 텅스텐 반-산란 그리드가 효과적으로 설계되고 몬테카를로 모사가 수행되었으며, 전형적 크기가 52.1 x 52.1 ㎟인 시험용 그리드가 정밀기계 천공 기술로 제작되었고, 이에 의한 산란된 방사선에 대한 직접 방사선의 비율이 1.54까지 증가되었다. 아울러, 설계된 그리드가 사용될 때에 시료의 뚜렷한 테두리가 영상 내에서 가시화될 수 있었고, 영상의 품질이 실질적으로 향상되었다.

 

중간준위 X-선 섬광 방사선사진법을 위한 반-산란 그리드의 설계 및 검증시험에 대한 본 연구 결과는 국내 X-선 영상화의 성능제고를 위한 관련기술 분야의 향상을 위한 중요한 기술 자료가 될 것이다.

저자
W.J. Liu, C. Fan
자료유형
니즈학술정보
원문언어
영어
기업산업분류
화학·화공
연도
2016
권(호)
107()
잡지명
Applied Radiation and Isotopes
과학기술
표준분류
화학·화공
페이지
24~28
분석자
성*웅
분석물
담당부서 담당자 연락처
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